概述

太陽(yáng)光模擬器是一種能夠模擬太陽(yáng)光照射條件的設(shè)備，主要用于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中對(duì)太陽(yáng)能相關(guān)材料和設(shè)備進(jìn)行性能測(cè)試。這類模擬器能夠提供與自然太陽(yáng)光譜相似的光照，同時(shí)還能精確控制光照強(qiáng)度和照射角度，以滿足不同測(cè)試需求。

對(duì)于被歸類為太陽(yáng)光模擬器的光源，必須根據(jù)三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)之一進(jìn)行評(píng)估，并符合其中規(guī)定的規(guī)范。提供太陽(yáng)模擬器標(biāo)準(zhǔn)的三個(gè)組織是：

ASTM International（ASTM E927-19 用于光伏設(shè)備電氣性能測(cè)試的太陽(yáng)光模擬器標(biāo)準(zhǔn)分類）

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（JIS C 8904-9 太陽(yáng)光模擬器性能要求）

國(guó)際電工委員會(huì)（IEC 60904-9：2020 太陽(yáng)光模擬器特性分類）

雖然這些標(biāo)準(zhǔn)之間存在細(xì)微的差異，但它們的整體方法和分類系統(tǒng)在很大程度上是相同的。

太陽(yáng)光模擬器等級(jí)評(píng)價(jià)指標(biāo)

l                      光譜與太陽(yáng)光譜匹配

l                      照射的空間不均勻性

l                      照射的時(shí)間不穩(wěn)定性

在每個(gè)區(qū)域，太陽(yáng)光模擬器將獲得 A 到 C 之間的評(píng)級(jí)（在的 IEC 標(biāo)準(zhǔn)中為 A+ 和 C），具體取決于其性能。A 是可以達(dá)到的評(píng)級(jí)，C 是的評(píng)級(jí)。因此，太陽(yáng)模擬器的總評(píng)級(jí)為 3 個(gè)字母的等級(jí)，例如 ABB。為清楚起見，這些分級(jí)的順序必須按以下順序排列：光譜匹配、空間不均勻性和時(shí)間不穩(wěn)定性。例如，太陽(yáng)模擬器可能被授予 ABB 評(píng)級(jí)，表明它已獲得光譜匹配 A、空間不均勻性 B 和時(shí)間不穩(wěn)定性 B。下面我們將回顧在每個(gè)性能測(cè)試中實(shí)現(xiàn)分類的要求，以及它們的計(jì)算方式。科迎法電氣太陽(yáng)光模擬器是根據(jù) IEC 60904-9：2020 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量的，因此我們以此為基礎(chǔ)，但所有三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的原則都是通用的。

光譜匹配到太陽(yáng)光譜

太陽(yáng)模擬器光譜應(yīng)近似于地球上接收到的光的光譜，即太陽(yáng)模擬器發(fā)出的紫外線、藍(lán)光、綠光、紅光和紅外光的相對(duì)強(qiáng)度理想情況下應(yīng)與從太陽(yáng)接收到的光的相對(duì)強(qiáng)度相同。由于太陽(yáng)接收到的光因位置、一天中的時(shí)間、天氣、一年中的時(shí)間等幾個(gè)因素而有很大差異，因此這在某種程度上變得復(fù)雜。為了簡(jiǎn)化和標(biāo)準(zhǔn)化問題，定義了一系列參考太陽(yáng)光譜，例如 AM1.5 光譜。太陽(yáng)光模擬器是根據(jù) ATSM G1-5 和 IEC 173 中定義的 AM03.60904G 光譜輻照度標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量的。

IEC 60904-9：2020 標(biāo)準(zhǔn)僅考慮了 300 nm 至 1200 nm 之間的波長(zhǎng)范圍。這主要是因?yàn)榇蠖鄶?shù)太陽(yáng)能電池技術(shù)的響應(yīng)度都在這個(gè)范圍內(nèi)。是由小帶隙材料（如鍺或氮化銦）制成的電池，它們可以吸收波長(zhǎng)高達(dá) 1800 nm 的光。這部分光譜被分成六個(gè)“區(qū)間"，每個(gè)區(qū)間包含大致相同水平的太陽(yáng)輻照度（舊標(biāo)準(zhǔn)仍然使用 6 個(gè)區(qū)間，但每個(gè)區(qū)間的大小基于波長(zhǎng)間隔，而不是每個(gè)區(qū)間包含的輻照度百分比）。

如何找到太陽(yáng)光模擬器的光譜匹配等級(jí)

使用光譜輻射計(jì)測(cè)量來(lái)自太陽(yáng)模擬器的模擬輻照度

對(duì) 300 nm 至 1200 nm 之間的總輻照度進(jìn)行積分

計(jì)算每個(gè) bin 中總輻照度的百分比

最后，將測(cè)得的百分比除以每個(gè)波長(zhǎng)區(qū)間的標(biāo)準(zhǔn)給出的百分比。此比率稱為光譜匹配

所有區(qū)間都必須在給定的范圍內(nèi)才能實(shí)現(xiàn)相應(yīng)的分類，例如，如果區(qū)間 1 – 5 的光譜匹配為 1.12 （A+），但區(qū)間 6 的光譜匹配為 0.65（B 類），則光譜匹配的測(cè)量值將為 B 類。

光譜匹配計(jì)算必須在太陽(yáng)光模擬器測(cè)試平面中測(cè)試區(qū)域"內(nèi)的至少四個(gè)位置進(jìn)行。此測(cè)試區(qū)域是分類測(cè)量和有效的區(qū)域。這將是您放置要測(cè)試的設(shè)備的區(qū)域。這四個(gè)位置通常選擇在測(cè)試區(qū)域的外邊緣。每個(gè)位置都分配了一個(gè)分類，光譜匹配的總體太陽(yáng)模擬器分類由性能低的位置決定。這可確保整個(gè)測(cè)試區(qū)域的光譜輻照度不會(huì)隨測(cè)試區(qū)域的變化而變化。因此，只要您的設(shè)備位于測(cè)試區(qū)域內(nèi)，橫向設(shè)備位置就不會(huì)影響您的結(jié)果。

標(biāo)準(zhǔn)中沒有對(duì)太陽(yáng)模擬器的總輻照度提出要求。然而，標(biāo)準(zhǔn)化的 AM1.5G 太陽(yáng)光譜的總綜合輻照度為 1000 W/m2這通常被稱為 1 個(gè)太陽(yáng)強(qiáng)度，大多數(shù)太陽(yáng)模擬器至少能夠達(dá)到這個(gè)輻照度。

輻照度的空間不均勻性

從太陽(yáng)接收到的光在平面上具有均勻的強(qiáng)度（忽略陰影等局部效果）。換句話說(shuō)，在一小塊區(qū)域內(nèi)，陽(yáng)光是均勻分布的。太陽(yáng)光模擬器還應(yīng)產(chǎn)生均勻的光輸出。通常使用均質(zhì)光學(xué)元件來(lái)實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)。高空間均勻性對(duì)于太陽(yáng)光模擬器很重要，因?yàn)椴痪鶆虻墓鈴?qiáng)度會(huì)使測(cè)量位置變得依賴性，這是我們要避免的。

通過將光強(qiáng)度測(cè)量設(shè)備（例如參考太陽(yáng)能電池或光電二極管）移動(dòng)到太陽(yáng)模擬器的測(cè)試平面上來(lái)評(píng)估輻照度的不均勻性，以構(gòu)建其測(cè)量的光強(qiáng)度的二維網(wǎng)格。如果光線分布均勻，則此測(cè)量值在整個(gè)測(cè)試區(qū)域內(nèi)不應(yīng)發(fā)生太大變化。

所需的探測(cè)器特性和掃描參數(shù)取決于測(cè)試區(qū)域的大小和太陽(yáng)光模擬器的預(yù)期用途（例如，對(duì)于光伏電池或模塊，單結(jié)或多結(jié)器件）。大輻照度點(diǎn)和小輻照度從格網(wǎng)中獲取，并使用以下方程計(jì)算空間不均勻性。

時(shí)間不穩(wěn)定性

時(shí)間不穩(wěn)定性表示太陽(yáng)光模擬器的光輸出強(qiáng)度隨時(shí)間變化的程度。高時(shí)間不穩(wěn)定性將使測(cè)量的可重復(fù)性降低，并可能使結(jié)果看起來(lái)有噪聲。時(shí)間不穩(wěn)定性可能是由許多與太陽(yáng)光模擬器硬件相關(guān)的因素引起的，例如電源中的噪聲或放電燈中的電弧顫振。這種閃爍可以在非常短的時(shí)間尺度（不到一秒）內(nèi)出現(xiàn)，也可以在較長(zhǎng)的時(shí)間尺度（幾天或幾周）內(nèi)以強(qiáng)度漂移的形式出現(xiàn)。因此，時(shí)間不穩(wěn)定性分為短期不穩(wěn)定性 （STI） 或長(zhǎng)期不穩(wěn)定性 （LTI）。